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光学故障测量仪OCI-T

OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点,可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断。

产品特点

· 可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量

· 长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm

· 非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断

主要应用

· 无源器件测量

· 光学链路测量

参数
类别 指标 单位
长度测量
测量范围 10 20 m
空间分辨率 20 μm
回损测量
回损动态范围 65 dB
回损灵敏度 -130 dB
回损测量精度 ±0.5 dB
插损测量
插损动态范围 15 dB
插损测量精度 ±0.5 dB
光谱范围
波段 C band -
测量时间
单次测量时间 0.2 s
硬件信息
输入电压 AC 220/110V;DC 12V -
通讯接口 USB -
光纤接口 FC/APC -
尺寸 390 x 340 x 158 mm
重量 7.5 kg
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